.KG-Elektronik

Schichtdicken- und Volumenmeßgerät


Mit der immer weiter steigenden Komplexität von Leiterplatten in der SMT werden die Anforderungen an die Fertigungstechnik ebenfalls umfangreicher. Qualitätssichernde Maßnahmen wie z.B. SPC werden zur Erzielung einer hohen Produktqualität eingesetzt.
Ein wesentliches Qualitätskriterium für ein perfektes Lötergebnis beim Reflowlöten ist das Aufbringen des optimalen Lotdepots.
Im allgemeinen wird hierfür der Sieb- oder Schablonendruck eingesetzt. Viele Einflußfaktoren bestimmen das Druckergebnis. Zu wenig Paste auf der Druckvorlage oder verstopfte Öffnungen verursachen ein zu geringes Lotdepot. Daraus resultieren offene oder zu magere Lötstellen. Ebenso kann das Druckergebnis durch falsche Rakelgeschwindigkeit oder Rakeldruck verfälscht werden.

Eine wichtige Maßnahme zur Qualitätssicherung beim Pastendruck ist die laufende Überprüfung des Druckprozesses. Einen hohen Stellenwert hat hierbei die stichprobenartige Kontrolle und Dokumentation der gedruckten Naßschichtdicke an ausgewählten Stellen auf der Leiterplatte. Mit dem Schichtdickenmeßgerät steht nun ein preiswertes Kontrollinstrument für diesen Zweck zur Verfügung.
Einfache und schnell durchzuführende Messungen lassen Abweichungen beim Druckprozeß unverzüglich erkennen.

Weitere Anwendungen

Die Messung von Höhenunterschieden funktioniert bei allen Meßobjekten die eine "Kante" (Differenzmessung) aufweisen. Der Vorteil gegenüber mechanischen Methoden ist die berührungslose optische Messung. Beispiele für die Anwendung sind die Überprüfung der Dicke von Lötstopmasken auf Leiterplatten oder auch die Kupferschichtdicke von Leiterbahnen. Das optional erhältliche Meßokular mit Mikrometerschraube ermöglicht seitliche Ausdehnungen zu messen. Beispielsweise den Druckversatz beim Lotpastendruck, den Versatz der Lötstopmaske oder Leiterbahnbreiten und Restringe.

Gerätebeschreibung

Grundlage des Meßgerätes ist ein monokulares Mikroskop mit einer 10-fachen Okularvergrößerung. In Verbindung mit den Objektiven (4x, 10x, 20x) am 3-fach Revolver werden Vergrößerungen von 40x, 100x und 200x erreicht. Die Voreinstellung abhängig von der Höhe des Meßobjektes erfolgt über einen Grobtrieb mit insgesamt 60 mm Verstellweg. Die Focussierung für die Messung erfolgt über einen Feintrieb mit 2mm Verstellweg, dieser entspricht dem maximalen Meßbereich. Die Differenz der beiden Meßpunkte wird mit Hilfe einer Digital-Meßuhr angezeigt. Die Meßwerte können über die eingebaute Datenschnittstelle erfaßt und weiterverarbeitet werden. Ein massives und schwingungsarmes Stativ in Verbindung mit einer Niedervolt-Auflichtbeleuchtung garantiert eine sichere Messung bei jeder Vergrößerung. Eine Ausladung von 180 mm erlaubt die Durchführung der Messung auch an größeren Leiterplatten. Schichtdickenmeßgerät

Arbeitsweise

Meßprinzip Mit dem Grobtrieb wird zuerst auf die Leiterplattenoberfläche scharfgestellt. Im Blickfeld sollten die Metalloberfläche des Pads und die Paste zu erkennen sein. Es ist nicht zweckmäßig, die Leiterplatte während der Messung zu bewegen. Mit der Feinfocussierung wird auf dem Pad scharf eingestellt. Dieser Vorgang wird durch kalibrieren der Meßuhr mit der CLEAR-Taste bestätigt (1.Messung, Nullstellung). Sodann wird die Feinfokussierung auf der Oberfläche der Lotpaste durchgeführt (2. Messung). Die ermittelte Höhendifferenz entspricht der Schichtdicke an der gewählten Stelle und wird auf der Meßuhr angezeigt.

Technische Daten:

Optionen:

  • Meßokular mit Schraubenmikrometer, Meßbereich 10 mm, Teilung in 0,01 mm.
  • Kreuztisch mit Kugelbahnenführung und Triebknöpfe für die x- und y- Richtung. Tischgröße 145 x 115 mm, Bewegungsbereich 75 x 50 mm.
  • Manueller Kreuztisch mit Kugelbahnenführung. Tischgröße 170 x 155 mm, Bewegungsbereich 100 x 105 mm.
  • Datenkabel für Anschluß an XT/AT-PC
  • C-Mountadapter für Videokamera
  • T2-Adapter für Fotokamera
  • Erweiterung zum Volumenmeßgerät mit Kamera und speziell entwickelter Software (Windows) zur Messung und Protokollierung bzw. Auswertung der Lotpastenvolumen.
Meßokular
CSP unten CSP Oben Beispiel für eine Volumenmessung an einem CSP-Pad

Seitenanfang Letzte Änderung: 27.05.2005
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